影響絕緣電阻率的主要原因分析 

國電西高GD3126A/GD3126B智能絕緣電阻測(cè)試儀

 
1.環(huán)境溫濕度影響 
一般導(dǎo)體材料的電阻值隨環(huán)境溫濕度的升高而減小，相對(duì)而言，絕緣電阻表面電阻對(duì)環(huán)境溫濕度比較明顯，溫濕度增加，載流的運(yùn)動(dòng)速率加快，被測(cè)體表面泄漏電流隨之增大導(dǎo)致介質(zhì)材料的吸收電流和電導(dǎo)電流會(huì)相應(yīng)增加。 
據(jù)有關(guān)資料報(bào)道，一般介質(zhì)在70℃時(shí)的電阻值僅有20℃時(shí)的10％，因此，測(cè)量材料的電阻時(shí)，必須指明試樣與環(huán)境達(dá)到平衡的溫濕度。 
2.測(cè)試電壓的影響 
介質(zhì)材料的電阻值在常溫條件下和較低電壓范圍內(nèi)，電導(dǎo)電流隨外加電壓的增加而線性增加，材料的電阻值保持不變，超過一定電壓后，離子化運(yùn)動(dòng)加劇，電導(dǎo)電流的增加遠(yuǎn)比測(cè)試電壓增加的快，材料的電阻值迅速降低，因此，測(cè)試電壓越高，材料的電阻值越低。 
對(duì)相同的測(cè)試電壓，若測(cè)試電極之間的距離不同，對(duì)材料電阻率的測(cè)試結(jié)果也將不同，正負(fù)電極之間的距離越小，測(cè)試值越小。 
3.測(cè)試時(shí)間的影響 
用一定直流電壓對(duì)被測(cè)材料加壓時(shí)，被測(cè)材料上的電流是有一定時(shí)間的衰減過程，在加壓的同時(shí)，流過較大的充電電流，隨著時(shí)間變長(zhǎng)被測(cè)材料緩慢減小吸收電流，最后達(dá)到比較平穩(wěn)的電導(dǎo)電流，被測(cè)電阻值越高，達(dá)到平衡的時(shí)間則越長(zhǎng)，因此為了準(zhǔn)確讀取被測(cè)電阻的真實(shí)絕緣阻值，應(yīng)在穩(wěn)定后讀取數(shù)值或取加壓1分鐘后讀取當(dāng)前電阻值。 
注意，重復(fù)測(cè)試時(shí)，應(yīng)在測(cè)試前進(jìn)行充分的放電處理并靜止5~10分鐘再次測(cè)試。 
4.絕緣電阻測(cè)試儀的泄漏 
不同廠家生產(chǎn)的絕緣電阻測(cè)試儀質(zhì)量不同，從原理上應(yīng)采取有效消除雜散電流的措施，避免與取樣電阻等并聯(lián)，測(cè)試過程中盡量采用高絕緣、大線徑的高壓導(dǎo)線作為高壓輸出線并盡量縮短連線，減少尖端，杜絕電暈放電。 
5.外界干擾 
高絕緣材料加上直流電壓后，通過試樣的電流很小，極易受到外界干擾的影響造成較大的測(cè)試誤差，在測(cè)試電流小于10mA或測(cè)量絕緣電阻超過1000Ω時(shí)，被測(cè)試電極應(yīng)采取嚴(yán)格的屏蔽措施，消除外界干擾帶來的影響。